Paljudes mikroskoobisüsteemides määratakse x-valimi intervall kaamera tajurelementide vahelise kaugusega, mida nimetatakse piksliteks, ja optilise seadistuse suurendusega.
In many microscopy systems the x-sampling interval is determined by the distance between sensor elements in a camera, called pixels, and by the magnification of the optical setup.
На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.
