particular probing mode for taking consecutive measured point in order characterize lines on an inspected surface, moving the probe over the surface to be measured while the stylus tip contacts the surface, konkreetne kompamismoodus järjestikuste mõõtepunktide kompamiseks, et iseloomustada punkide asukohti kontrollitaval pinnal, mõõtepea liigutamine mõõdetava pinna kohal, samal ajal kui nõel-/varbotsaku ots puudutab pinda