Paljudes mikroskoobisüsteemides määratakse kindlaks x-telje kompamisintervall optilise suurendusega kaamera tajurelementide vahelise kauguse järgi pikslites.
In many microscope systems, the sampling interval in x is determined through the optical magnification by the distance between sensor elements in a camera called pixels.
На странице корпусного менеджера SkELL пользователь может познакомиться с контекстами употребления и с распространёнными сочетаниями слова, а также с синонимами и другими близкими по значению словами. Данные выбраны компьютером aвтомaтически и могут содержать ошибки.
