Taandatud tipukõrgus, mis on tähistatud kui Spk (3D - pindala) või Ppk ja Rpk (2D - profiil), on pinna metroloogiaparameeter, mis võimaldab mõõta pinna tippude keskmist kõrgust südamiku pinnakareduse kohal ja see esindab materjali, mis tõenäoliselt eemaldatakse sissetöötamise ajal, näidates suure kontaktpingega alasid.
Reduced peak height, often denoted as Spk (3D - areal) or Ppk and Rpk (2D - profile), is a surface metrology parameter measuring the average height of surface peaks above the core roughness, and it represents the material likely removed during "running-in" or break-in operations, indicating areas of high contact stress.
