secondary ion mass spectrometry
technique for elemental chemical analysis wherein the primary ion beam produces secondary ions that are analyzed by mass spectrometer (see: mass spectrometer), elementide keemilise analüüsi tehnika, mille korral primaarne ioonide voog tekitab sekundaarseid ioone, milliseid analüüsitakse massispektromeetri abil (vt massispektromeeter)