spatial period of a sinusoidal profile at which the height response of the instrument transfer function falls to 50 %, siiinuselise profiili ruumiline periood, mille puhul mõõtevahendi ülekandeseose kõrguskarakteristik langeb 50 %-ni
spatial period of a sinusoidal profile at which the height response of the instrument transfer function falls to 50 %, siiinuselise profiili ruumiline periood, mille puhul mõõtevahendi ülekandeseose kõrguskarakteristik langeb 50 %-ni
DLIM . Metroloogia terminibaas. Eesti Keele Instituut, Sõnaveeb 2026. https://sonaveeb.ee/search/unif//mea/DLIM/1/eng (02.07.2026)