et

vähim ümberjoonestatud mõõde

1

Terminological databases

Metroloogia terminibaas

ID 573874 Last modified 09.09.2025
View dataset
View dataset
Domain Standardisation - Metrology
  • käsitletava kujundi üldjoonmõõde, mis on määratud võimaliku kujundi väikseima ümberjoonestatu kriteeriumi järgi
  • global linear size for which an associated integral feature is established from the extracted integral feature(s) with the minimum circumscribed criterion
väikseim ümberjoonestatud mõõde preferred
Good to know
  • Väikseimat ümberjoonestatud mõõdet nimetati varem kui “seonduv mõõde väliskujundi jaoks” (“mating size for an external feature”).
vähim ümberjoonestatud mõõde
minimum circumscribed size
Usage examples
  • In the case of an external feature of linear size, the minimum circumscribed size was previously called “mating size for an external feature”. It minimizes the size of the associated feature that is circumscribed to the extracted integral feature.

Word forms not available

Etymology not available

Related words not available

Search the same word

in the EU's IATE term base
Searching web examples...
Searching translated usage examples...