skanniv tunnelmikroskoopia, skaneeriv tunnel-elektronmikroskoopia, tunnelmikroskoopia
surface topography measurement method werebly the determination of surface height arises from the height-related variations in the electrical tunnelling current produced between a conducting surface and a conducting tip placed very close to it, with a constant voltage maintained between them, pinnatopograafia mõõtemeetod, mille põhjal pinna kõrguse mõõtmine põhineb elektrit juhtiva pinna ja sellele väga lähedal asuva juhtiva teravikotsaku vahel tekkiva elektrilise tunnelivoolu kõrgusest tulenevatest kõikumistest, mille vahel hoitakse konstantset pinget