Pinna metroloogias on profiilielementide kõrguste standardhälve standarditud parameeter, mis on ISO 21920-2 spetsifikatsiooni kohaselt määratletud tähistega Pcq või Wcq või Rcq. See parameeter esindab järjestikuste profiilielementide üksikute kõrguste ruutkeskmist hälvet, kus iga element koosneb ühest tipust ja ühest külgnevast orust.
In surface metrology, the standard deviation of profile element heights is a standardized parameter defined as Pcq or Wcq or Rcq under the ISO 21920-2 specification. It represents the root-mean-square deviation of the individual heights of sequential profile elements (where each element consists of one peak and one adjacent valley).
