et

pinnakirjeldusmeetod

1 substantive

Terminological databases

Metroloogia terminibaas

ID 1143054 Last modified 30.01.2026
View dataset
View dataset
Domain metrologymeasuring procedures
  • pinna mõõtemeetod, mis esitab pinna topograafilise kujutise, mida saab matemaatiliselt esitada kahe sõltumatu muutuja (x, y) kõrgusfunktsioonina z(x, y)
  • surface measurement method that produces a topographical image of a surface, which may be represented mathematically as a height function z(x, y) of two independent variables (x, y)
pinnakujutisemeetod preferred
Usage examples
  • Pinnakujutisemeetodiga mõõtmiseks välja arendatud või kohandatud pinna topograafia mõõtemeetodite näideteks on hoob-/nõelotsakuga skannimine, faasinihutusega interfererentsmikroskoopia, koherentsustskanniv interferentsmeetod, muutfookuse mikroskoopia, ühisfookusvärvsusmikroskoopia, struktureeritud valgusprojektsioonitehnika, optiline diferentsiaalprofileerimine, digitaalholograafiamikroskoopia, punkt-autofookuse profileerimine, nurgalahutusega hajuvuselektronmikroskoopia, SEM steroskoopia, skanniv tunnelmikroskoopia ja aatomijõu mikroskoopia.
areal-topography method
Usage examples
  • Examples of areal-topography methods that have been developed or adapted for areal-topography measurements include stylus scanning, phase-shifting interferometric microscopy, coherence scanning interferometry, confocal microscopy. confocal chromatic microscopy, structured light projection, focus variation microscopy, optical differential profiler, digital holography microscopy, point autofocus profiling, angle-resolved scanning electron microscopy, SEM sterooscopy, scanning tunneling microscopy, and atomic force microscopy.

Word forms not available

Etymology not available

Related words not available

Search the same word

in the EU's IATE term base
Searching web examples...
Searching translated usage examples...