surface topography measurement method whereby the sharpness of the surface image (or another property of the reflected light at optimum focus) in an optical microscope is used to determine the surface height at each position along the surface, pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul pinna kõrguse mõõtmiseks igas pinna asukohas (punktis) kasutatakse optilises mikroskoobis pinnapildi teravust (või mõnda muud peegeldunud valguse omadust optimaalse fookuse korral)