Röntgendifraktsioonimõõtur kasutab põhiparameetri meetodit piigi täpsemaks arvutamiseks, mille tõttu mõõtevahend võimaldab faasi identifitseerimist kristallograafia avatud andmebaasi (COD) abil ja algusest peale suurepärast kristallstruktuuri analüüsi.
Hea teada
Röntgendifraktsioonimõõtur (minifleks) tegi edasimineku röntgenivõimsuses 450 vatini, töötades 30 kV ja 15 mA juures ning arvuti juhtimise tehnoloogias. Nii eelmise kui ka praeguse põlvkonna mõõturil on vertikaalne gonimeeter, mis võimaldab kasutada 6-asendilist automaatset proovimuutjat. Uus minifleks võeti kasutusele 2006. aastal ja see pakkus monokromaatilise röntgenkiirguse allika ja 1D räniribadetektori uuendust. 2012. aastal kasutusele võetud 5. põlvkonna minifleks on 600 W toru võimsuse ja uue PDXL pulbri difraktsioonitarkvaraga. 2017. aastal võeti kasutusele 6. põlvkonna minifleks, mis sisaldab 2D hübriidpikslite massiividetektorit (HPAD) ja 8-positsioonilist automaatset proovimuuturit.
Including a fundamental parameter method for more accurate peak calculation, phase identification using the crystallography open database (COD), and a wizard for ab initio crystal structure analysis.
Hea teada
Miniflex provided a dramatic advance in x-ray power to 450 watts by operating at 30 kV and 15 mA as well as in the technology with computer control. Both the miniflex and the current generation product employ a vertical goniometer that allowed the use of a 6-position automatic sample changer. The miniflex was introduced in 2006 and offered the advance of a monochromatic X-ray source and a 1D silicon strip detector. The 5th generation miniflex, introduced in 2012, built upon this legacy with 600 W of tube power and new PDXL powder diffraction software. 2017 saw the introduction of the 6th generation miniflex incorporating a 2D hybrid pixel array detector (HPAD) and 8-position automatic sample changer.
