detection limit, LOD
antud mõõteprotseduuriga saadud suuruse mõõdis, mille korral eksliku väite tõenäosus, et komponent puudub materjalis on β, kui on antud tõenäosus α, mis ekslikult väidab komponendi olemasolu, measured quantity value, obtained by a given measurement procedure, for which the probability of falsely claiming the absence of a component in a materials is β, given a probability α of falsely claiming its presence