Kui soovid oma küsimusele vastust, jäta meile oma e-posti aadress.
Aitäh, oleme tagasiside kätte saanud.
ellipsometry is an optical technique for investigating the dielectric properties (complex refractive index or dielectric function) of thin films, optiline meetod õhukeste kilede dielektrilisi omadusi iseloomustavate suuruste (kompleksne murdumistegur või dielektriline läbitavus) mõõtmiseks
ellipsimeetod . Metroloogia terminibaas. Eesti Keele Instituut, Sõnaveeb 2026. https://sonaveeb.ee/search/unif//mea/ellipsimeetod/1/est (01.07.2026)