measurement method wherein the localization of optically sectioned images during an axial scan trough the focus of a microscope's objective provides a means to determine an areal surface topography image, surface topography measurement method whereby a pinhole object illuminated by the light source is imaged by a lens onto the surface being studied and the light is reflected back through the lens to a second pinhole placed in front of a detector and acting as a spatial filter, mõõtemeetod, mille puhul optiliselt lõigatud kujutiste lokaliseerimine teljesuunalise skannimise ajal mikroskoobi objektiivi fookuse kaudu annab võimaluse fikseerida mõõteobjekti pinna topograafia kujutis, pinnatopograafia mõõtemeetod, mille puhul valgusallika valgustatud pisiava kujutis suunatakse objektiiviga uuritavale pinnale ja valgus peegeldub läbi läätse tagasi teise pisiavasse, mis asetatakse detektori ette ja toimib ruumifiltrina