Pinnaprofiili arenenud pikkus, nt Rdl, on pinna metroloogiaparameeter, mis võimaldab mõõta karedusprofiili kontuuri tegelikku pikkust, mitte sirgjoonelist hindamispikkust (L). See parameeter arvestab pinna mikroskoopilisi tippe ja orge.
The developed length of a surface profile, for example Rdl, is a surface metrology parameter that measures the actual distance along the contour of a roughness profile rather than the straight-line evaluation length (L). It accounts for the microscopic peaks and valleys of a surface.
