component(s) of the instrument that generate(s) the reference surface, in which the probing system moves relative to the surface being measured according to a theoretical exact trajectory, mõõtevahendi komponen(t)did, mis genereerivad tugipinna pinna, mida mööda kompamissüsteem liigub mõõdetava pinna suhtes vastavalt teoreetilisele täpsele trajektoorile