surface topography measurement method whereby two (or sometimes more) scanning electron microscopy (SEM) images are taken of a surface oriented at slightly different angles and the comparison of the two images yields a stereo effect, which allows the determination of surface topography, pinnatopograafia mõõtemeetod, mille käigus tehakse kaks (või mõnikord rohkem) skanniva elektronmikroskoopia pilti veidi erineva nurga all orienteeritud mõõteobjekti pinnast ja kahe pildi võrdlemine annab stereoefekti, mis võimaldab hinnata pinna topograafiat