atomic force microscope, scanning force microscope, SFM
device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface, mõõtevahend, mida kasutatakse pinna aatomistruktuuri kaardistamiseks, mõõtes jõudu, mis toimib üle pinna liigutatava kompimisosise väga peenele otsale