et

õhuke kile

1

Erialasõnastikud

EKI terminibaas Esterm

ID 699013 Viimati muudetud 20.09.2018
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond opticscomponents
  • films whose thickness, broadly speaking, is less than lµ. They may be prepared by a variety of techniques including electrolytic deposition, anodizing, and, more commonly, sputtering or evaporation. Thin films have mechanical, electrical, magnetic and optical properties which may differ from those of the bulk material and are used, commonly in the form of a deposit on a suitable substrate ...
  • dép?t de mati?res dont l'épaisseur n'exc?de pas 1 000 angstroms (c.-?-d. un dix-milli?me de millim?tre). Les métaux déposés en couches minces présentent des propriétés extr?mement différentes de celles qu'on leur conna?t sous la forme habituelle, particuli?rement dans les domaines électriques et magnétiques.
õhuke kile
Näited
  • Kaasaegsed infotehnoloogia seadmed töötavad valdavalt kilematerjalidel, mille paksus on vahemikus mõni nanomeeter kuni mõni mikromeeter. Selliste õhukeste kilede valmistamis- ehk sadestustehnikaid jaotatakse kõige üldisemalt füüsikalisteks ja keemilisteks. Füüsikalisel aurufaasist sadestamisel toimub esiteks algmaterjali aurustumine ning seejärel selle kondenseerumine kasvatusalusele. Protsess võib toimuda nii vaakumis kui inertgaasis. Keemilisel aurufaasist sadestamisel toimuvad lisaks aine transpordile ka keemilised reaktsioonid. Näiteks lagundatakse lähteaine kasvatusaluse juures kaheks komponendiks, millest üks sadeneb alusele ja teine, gaasiline komponent, viiakse süsteemist välja.
thin film

Metroloogia terminibaas

ID 1142957 Viimati muudetud 31.05.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond standardimine, metroloogiameasuring procedures
õhuke kile
  • kile/pinne, mille paksus on selline, et mõõtmisel ülemist ja alumist pinda ei saa optilise mõõtesüsteemiga hõlpsasti eraldada
  • film whose thickness is such that the top and bottom surfaces cannot be readily separated by the optical measuring system
õhuke kile
Näited
  • Mõnede eriomaduste ja algoritmidega mõõtesüsteemide puhul saab tuletada õhukeste kilede/pinnete paksuse.
thin film
Näited
  • For some measurement systems with special properties and algorithms, the thickness of thin films can be derived.

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Sama sõna

ELi terminibaasis IATE
Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...